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X射线能谱仪(EDAX-GENESIS)
文章来源:    发布时间:2016-06-24      【字号:


仪器名称:
X射线能谱仪(EDAX-GENESIS)

功能参数:
   
探头分辨率优于129 eV,峰背比优于20000:1;检测元素范围Be4 - Es99;最大计数率500,000cps;最大图象采集分辨率8192×6400象素;最大面分布图采集分辨率2048×1600象素。

主要用途:

   
高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析;金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定;可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析,如:金属化膜表面镀层的检测;进行材料表面微区成分的定性和定量分析,材料表面做元素的面、线、点分布分析。



安装地点:环境室A2-123
测试联系人:唐杨,高级工程师
联系方式:0851-85895390;Email:tangyang@mail.gyig.ac.cn